波雷達物位計(2).jpg)
淮安華立儀表專業(yè)生產(chǎn)導(dǎo)波雷達物位計，我們?yōu)槟峁I(yè)的產(chǎn)品選型，現(xiàn)場安裝調(diào)試，24小時技術(shù)熱線支持。歡迎廣大客戶前來洽談選購。
產(chǎn)品概述：
HL專業(yè)生產(chǎn)的導(dǎo)波雷達物位計是一種微波物位計，它是微波（雷達）定位技術(shù)的一種運用。它是通過一個可以發(fā)射能量波（一般為脈沖信號）的裝置發(fā)射能量波，能量波在波導(dǎo)管中傳輸，能量波遇到障礙物反射，反射的能量波由波導(dǎo)管傳輸至接收裝置，再由接收裝置接收反射信號。根據(jù)測量能量波運動過程的時間差來確定物位變化情況。由電子裝置對微波信號進行處理，最終轉(zhuǎn)化成與物位相關(guān)的電信號。HL專業(yè)生產(chǎn)的導(dǎo)波雷達物位計用于對液體、漿料及顆粒料等介電常數(shù)比較小的介質(zhì)的進行接觸連續(xù)測量，適用于溫度、壓力變化大、有惰性氣體或蒸汽存在的場合。
產(chǎn)品特點：
1、通用性強：可測量液位及料位，可滿足不同溫度、壓力、介質(zhì)的測量要求，最高測量溫度可達800℃，最大壓力可達5MPa，并可應(yīng)用于腐蝕、沖擊等惡劣場合。
2、防掛料：獨特的電路設(shè)計和傳感器結(jié)構(gòu)，使其測量可以不受傳感器掛料影響，無需定期清潔，避免誤測量。
3、免維護：測量過程無可動部件，不存在機械部件損壞問題，無須維護。
4、抗干擾：接觸式測量，抗干擾能力強，可克服蒸汽、泡沫及攪拌對測量的影響。
5、準(zhǔn)確可靠：測量量多樣化，使測量更加準(zhǔn)確，測量不受環(huán)境變化影響，穩(wěn)定性高，使用壽命長。
主要技術(shù)參數(shù)：
環(huán)境溫度：-20～50℃；
相對濕度：5%～100%（包括直接濕）；
環(huán)境壓力：86kPa～108 kPa；
測量范圍： 0～6米，纜式最大可達35米；
過程連接： 螺紋 或者法蘭；
過程溫度： -40 -250℃；
過程壓力： 0.1～6Mpa；
工作頻率： 1.8GHz；
響應(yīng)速度： ≥0.2s（根據(jù)具體情況而定）
重 復(fù) 性： ± 3mm ；
分 辨 率： 1mm ；
電流信號： 4～20mA/HART；
精 度： <0.1% ；
通訊接口： HART 通訊協(xié)議 ；
電 源： 24V DC(+/-10%) /波紋電壓：1Vpp；
耗 電 量： max22.5mA ；
防爆認證： Exia II CT6 ；
外殼保護等級： IP68；
兩線制接線： 供電和信號輸出公用一根兩芯線；
電纜入口： 兩個M20ⅹ1.5（電纜直徑5 … 9mm）。
導(dǎo)波雷達物位計型號及說明：
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HL-DLUL
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廠家代號
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C1
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8㎜纜式探頭/不銹鋼（最大量程35m、-40~250℃）
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探頭型式及材料
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C2
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10㎜桿式探頭/不銹鋼（最大量程6m、-40~250℃）
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C3
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同軸管式探頭/不銹鋼（最大量程6m、-40~350℃）
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0
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螺紋連接
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過程連接
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1
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標(biāo)準(zhǔn)法蘭
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0
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一體化（普通型）
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電子部件相關(guān)
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1
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分離型（3m電纜）
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2
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其他
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P
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普通型
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防爆選項
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I
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本安型
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1
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現(xiàn)場顯示
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顯示及編程器
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2
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編程器
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3
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現(xiàn)場顯示+編程器
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4
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無
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X
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客戶的特殊要求：如防爆外殼、量程等
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其他選項
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按設(shè)計和使用要求未能選出適當(dāng)?shù)膬x表時，請?zhí)岢鰡栴}和要求，我們的專業(yè)人員將協(xié)助您選型或為您設(shè)計制造特殊的產(chǎn)品，請至少提供下列資料：工作壓力、工作溫度、介質(zhì)名稱、對材料的要求等。
安裝指南
下述的安裝指南適用于纜式和桿式探頭測量固體顆粒料和液體物體。同軸管式探頭只適用于液體物體。
安裝位置：
盡量遠離出料口和進料口。
對金屬罐和塑料罐，在整個量程范圍內(nèi)不碰壁。如果是金屬罐，物位儀表不要安裝在罐的中央。
建議安裝在料倉直徑的1/4處。
纜式探頭或桿式探頭離罐壁最小距離不小于30厘米。
探頭底部距罐底大約30mm。
探頭距罐內(nèi)障礙物最小距離不小于200mm。
如果容器底部是錐型的，傳感器可以安裝
訂貨需知：
為了可以更好的為您提供服務(wù)，請您根據(jù)您的實際情況，參照選型說明（未盡事項，請來電咨詢），慎重選擇適合您具體需求的產(chǎn)品。當(dāng)您了解您的需求和我們產(chǎn)品的基本屬性后，可根據(jù)設(shè)計要求和現(xiàn)場情況正確選用儀表并按完整的產(chǎn)品規(guī)格代碼定貨。
注意：
使用導(dǎo)波雷達物位計只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間時，才能保證罐內(nèi)物位的可靠測量。
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